Электроника
ГЛАВНАЯ
Популярные статьи
» Серия "Электроника" (BHV) (42 книги + 18CD + 1DVD)
» A Radio. Prakticka Elektronika №10 2020
» Prakticka Elektronika A Radio CD 2019
» Ремонт и сервис №6 (261) июнь 2020
» Ремонт и сервис №7 (262) июль 2020
» Elektronika Praktyczna №8 2020
» Ремонт и сервис №5 (260) май 2020
» Swiat Radio №11 2020
» Elektor Electronics №6 (November-December 2020)
» CQ Amateur Radio №11 (November 2020)

Облако тегов
Arduino, Circuit Cellar, Elektor, Everyday Practical Electronics, FunkAmateur, Raspberry Pi, антенна, аудио, видео, Журнал, Измерения, Микроконтроллеры, Микросхемы, микроэлектроника, Программирование, Радіоаматор, Радио, Радио (жур.), Радиоаматор, Радиоконструктор, Радиолюбитель, радиолюбителю, Радиомир, радиосвязь, радиоэлектроника, ремонт, Ремонт и Сервис, робототехника, Связь, Серия Ремонт, справочник, схема, Схемотехника, Схемы, Телевидение, Телевизоры, усилитель, Электрик, Электроника, Электротехника

Показать все теги
Авторские права
Все книги на сайте представлены исключительно в ознакомительных целях!
Авторам, желающим внести поправки, просим связаться с администрацией.

Администрация
Главная » Книги » Теория » Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике


Теория, Приборостроение, Компьютер-помощник: Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике

Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике
Название: Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике
Автор: Денисенко В.В.
Издательство: ФИЗМАТЛИТ
Год: 2010
Страниц: 408
Язык: Русский

Монография содержит систематическое изложение принципов построения компактных моделей МОП-транзисторов для схемотехнического моделирования электронных цепей, в том числе СБИС. Рассмотрены проблемы моделирования, физические процессы в микро- и нанометровых МОП-транзисторах, методы формирования уравнений компактных моделей, особенности моделей BSIM, EKV, PSP, HiSIM и др., табличные модели, полунатурные модели.
Для разработчиков интегральных схем и электронной аппаратуры, разработчиков САПР СБИС, научных работников и аспирантов. Может быть полезна студентам физических специальностей университетов.

 

Рецензенты:
доктор технических наук, профессор Б.Г. Коноплев (ТТИ ЮФУ)
доктор технических наук, профессор К.О. Петросянц (МГИЭМ)



Оглавление

Предисловие
Глава 1. Схемотехническое моделирование
    1.1. Задачи схемотехнического моделирования
    1.2. SPICE-подобные программы моделирования
    1.3. Интерфейс к пользовательским моделям
    1.4. Аппаратные ускорители и многопроцессорные системы
        1.4.1. Прямой метод
        1.4.2. Методы релаксации формы сигнала
        1.4.3. Специализированные аппаратные ускорители
        1.4.4. Быстрое макетирование
    1.5. Выводы
Глава 2. Физические процессы в МОП-транзисторах
    2.1. Особенности субмикронных МОП-транзисторов
        2.1.1. Конструкции МОП-транзисторов для СБИС
        2.1.2. Методы улучшения характеристик
        2.1.3. МОП-транзисторы со структурой КНИ
        2.1.4. Транзисторы с двойным и окольцовывающим затвором
        2.1.5. Транзисторы на углеродных нанотрубках и нанопроводах
        2.1.6. Другие типы транзисторных структур
        2.1.7. Особенности транзисторов для аналоговых применений
    2.2. Новые физические эффекты
    2.3. Основные принципы формирования уравнений компактных моделей
    2.4. Подход к моделированию на основе порогового напряжения
        2.4.1. Ток стока
        2.4.2. Пороговое напряжение
    2.5. Моделирование на основе поверхностного потенциала
        2.5.1. Поверхностный потенциал
        2.5.2. Плотность заряда
        2.5.3. Ток стока
        2.5.4. Режим насыщения
    2.6. Моделирование на основе заряда инверсионного слоя
        2.6.1. Заряд инверсионного слоя
        2.6.2. Режим сильной инверсии
        2.6.3. Режим слабой инверсии
        2.6.4. Обзор режимов работы транзистора
        2.6.5. Ток стока
    2.7. Сглаживающие функции
    2.8. Модели подвижности
        2.8.1. Кулоновское рассеяние
        2.8.2. Рассеяние на фононах
        2.8.3. Рассеяние на шероховатости поверхности
        2.8.4. Эффективная подвижность
        2.8.5. Насыщение подвижности
    2.9. Моделирование тепловых процессов
    2.10. Моделирование паразитных элементов
        2.10.1. Емкости и заряды
        2.10.2. Неквазистатический эффект
        2.10.3. Последовательные сопротивления
        2.10.4. Ток утечки затвора
        2.10.5. Ток утечки истока и стока
        2.10.6. Динамика транзисторов с high-k диэлектриком
        2.10.7. Сопротивление подложки
        2.10.8. Моделирование шума
    2.11. Выводы
Глава 3. Методологические вопросы моделирования
    3.1. Требования к компактным моделям
    3.2. Точность модели
    3.3. Достоверность моделирования
    3.4. Причины низкой достоверности
        3.4.1. Фундаментальные (неустранимые) причины
        3.4.2. Опережающее развитие технологии
        3.4.3. Ошибки при разработке модели и программировании
        3.4.4. Ошибки, незамеченные при верификации модели
        3.4.5. Ошибки при организации вычислений
        3.4.6. Причины организационного характера
        3.4.7. Квалификация и ошибки пользователей
        3.4.8. Выводы
    3.5. Тестирование, верификация и валидация
        3.5.1. Требования к стандартным моделям
        3.5.2. Качественные тесты
        3.5.3. Количественные тесты
        3.5.4. Автоматизация тестирования моделей
    3.6. Диапазон применимости
    3.7. Место компактных моделей в САПР СБИС
    3.8. Стандартизация моделей
    3.9. Автоматическая генерация моделей
    3.10. Выводы
Глава 4. Четыре поколения компактных моделей
    4.1. Типы компактных моделей
    4.2. Модели первых поколений
        4.2.1. Модели Level1, Level2, Level3
        4.2.2. Модели BSIM и HSpice Level28
    4.3. Модели третьего поколения
        4.3.1. BSIM3
        4.3.2. EKV2
    4.4. Модели глубоко субмикронных и нанометровых транзисторов
        4.4.1. Обобщенная структура моделей
        4.4.2. Модель PSP
        4.4.3. EKV3
        4.4.4. BSIM4, BSIM5
        4.4.5. HiSIM
        4.4.6. Другие аналитические компактные модели
    4.5. Альтернативные подходы к моделированию
        4.5.1. Упрощенные модели
        4.5.2. Табличные модели
        4.5.3. Полунатурные модели
    4.6. Параметры компактных моделей
    4.7. Экстракция и идентификация параметров
        4.7.1. Методы оптимизации для экстракции параметров
        4.7.2. Особенности экстракции параметров для статистического моделирования
        4.7.3. Проектирование тестовых кристаллов
        4.7.4. Методика измерений
        4.7.5. ЕТ-тесты
    4.8. Выводы
Глава 5. Статистическое моделирование
    5.1. Математическое описание разброса параметров
    5.2. Параметры моделей для статистического моделирования
        5.2.1. Экстракция параметров по электрическим тестам
        5.2.2. Типовые значения разброса параметров
        5.2.3. Применение программ ПТ-моделирования
    5.3. Метод главных компонентов (РСА)
    5.4. Геометрические зависимости разброса параметров
        5.4.1. Локальный разброс. Закон Пелгрома
        5.4.2. Глобальный разброс
        5.4.3. Пространственная корреляция параметров
        5.4.4. Совместный учет глобального и локального разброса
    5.5. Методы статистического моделирования ИС
        5.5.1. Метод наихудшего случая
        5.5.2. Метод Монте-Карло
        5.5.3. Градиентный анализ
        5.5.4. Метод поверхности отклика. Планирование эксперимента
        5.5.5. Применение метода главных компонентов в случае пространственной корреляции параметров
        5.5.6. Метод прямых выборок
        5.5.7. Методы статистического моделирования цепей большой размерности
        5.5.8. Алгоритм статистического моделирования
    5.6. Выводы
Глава 6. Принципы полунатурного моделирования
    6.1. Основные идеи
        6.1.1. Проблемы применения реального транзистора вместо математической модели
        6.1.2. Цели полунатурного моделирования
        6.1.3. Область применения
        6.1.4. Недостатки и достоинства
        6.1.5. Структура полунатурной модели
        6.1.6. Набор реальных транзисторов для полунатурной модели
    6.2. Моделирование паразитных элементов в полунатурной модели
        6.2.1. Емкости, заряды и последовательные сопротивления
        6.2.2. Неквазистатический эффект
        6.2.3. Ток утечки затвора, истока и стока
    6.3. Регулировка параметров полунатурной модели
        6.3.1. Регулировка длины и ширины канала методом интерполяции
        6.3.2. Регулировки с использованием ЕТ-тестов
        6.3.3. Алгоритм идентификации параметров
        6.3.4. Верификация методов регулировки параметров
        6.3.5. Настройка модели по вольтамперным характеристикам
        6.3.6. Другие методы перестройки параметров
    6.4. Информационная емкость и погрешность модели
        6.4.1. Информационная емкость модели
        6.4.2. Погрешность и быстродействие модели
    6.5. Математические методы и алгоритмы
        6.5.1. Постановка задачи
        6.5.2. Сшивающие многополюсники
        6.5.3. Топологические преобразования
        6.5.4. Синтез сшивающих многополюсников
        6.5.5. Особенности реализации метода РФС
        6.5.6. Интеграция в САПР
    6.6. Выводы
Список литературы
Предметный указатель

Содержание Оглавление






The Art of Digital Audio. Third Edition Следующий пост >>Искусство создания акустики с максимально живым звуком в тракте аудио-видео ...
 
Другие новости по теме:
#1 написал: (14 марта 2011 06:42)
Спасибо...

Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.

Translate
Календарь
«    Ноябрь 2020    »
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
 
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
 

Архив новостей
Ноябрь 2020 (28)
Октябрь 2020 (13)
Сентябрь 2020 (22)
Август 2020 (27)
Июль 2020 (18)
Июнь 2020 (44)

Copyright © 2009-2023. RadioSovet.Ru. Маркетинг и SEO-реклама o-es.ru.