ВВЕДЕНИЕ...........................................................................................................3
1. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ КОНСТРУКТИВЫ ДЛЯ ИМПЛЕМЕНТАЦИИ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ.......................................................................................5
1.1. Стадии и средства имплементации идеи.....................................................5
1.2. Структура и технологии конструктивов цифровых систем.....................11
1.3. Технологии изготовления и тестирования цифровых систем в пакетах 22
1.4. Тестопригодное проектирование SiP на основе стандарта IEEE 1500... 26
1.5. Выводы.........................................................................................................35
1.6. Литература...................................................................................................35
2. АРХИТЕКТУРЫ КОМПОНЕНТОВ ДЛЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ.....................................................................................38
2.1. Состояние рынка электронных технологий..............................................38
2.2. Мобильное специализированное цифровое изделие................................39
2.3. Законы развития рынка электронных технологий....................................42
2.4. Универсализация или специализация?....................................................45
2.5. Архитектуры систем на кристаллах программируемой логики..............47
2.5.1. Введение....................................................................................................47
2.5.2. Развитие микросхемотехники.................................................................48
2.5.3. Характеристики компонентов программируемой логики....................49
2.5.4. Классификация PLD.................................................................................50
2.5.5. Архитектуры кристаллов программируемой логики............................51
2.6. Технологии проектирования цифровых систем на кристаллах...............60
2.6.1. Введение....................................................................................................61
2.6.2. Специализированные интегральные схемы - ASIC..............................62
2.6.3. Технологии и маршруты процесса проектирования.............................64
2.6.4. Верификация CPLD, FPGA кристаллов..................................................71
2.6.5. Intellectual Property (TP-) Cores.................................................................72
2.6.6. Проектирование и верификации SoC.....................................................75
2.7. Методология системного проектирования TLM.....................................78
2.8. Практическая значимость анализа технологий проектирования............86
2.9. Литература...................................................................................................91
3. ДЕДУКТИВНО-ПАРАЛЛЕЛЬНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ' НЕИСПРАВНОСТЕЙ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ...............................................98
3.1. Введение.......................................................................................................98
3.2. Обобщенная модель дедуктивно-параллельного анализа дефектов.......99
3.3. Внутренняя модель анализа цифрового устройства...............................105
3.4. Дедуктивный метод структурного анализа графа схемы.......................108
3.5. Метод параллельного дедуктивного моделирования графовых структур цифровых систем.......................,......................................................................112
3.6. Структурный анализ цифровых последовательностных схем..............114
3.7. ОДП-метод моделирования неисправностей цифровых систем...........115
3.8. Оценка быстродействия ОДП-метода......................................................119
3 9. Топологический ОДП-метод моделирования.........................................120
ЗЛО. Дедуктивный анализ дефектов................,..............................................128
3.11. Синтез дедуктивных компонентов для функций SoC..........................132
3.12. Структурные модели примитивов симулятора.....................................F39 .
3.13. Выводы.....................................................................................................145
3.14. Литература...............................................................................................145
4. ИНФРАСТРУКТУРА ДИАГНОСТИЧЕСКОГО ОБСЛУЖИВАНИЯ
SOC....................................................................................................................149
4.1. Инфраструктура I-IP..................................................................................149
4.2. Алгебрологаческий метод диагностирования дефектов........................153
4.3. Моделирование для уточнения диагноза...................'..............................157
4.4. Структурно-логический метод диагностирования дефектов.................161
4.5. Векторно-логический метод диагностирования по таблице неисправностей.................................................................................................163
4.6. Программное средство «Defect Analyzer»...............................................167
4.7. Алгебрологаческий метод ремонта памяти...................................;........174
4.8. Выводы.......................................................................................................181
4.9. Литература.................................................................................................183
5. ТЕХНОЛОГИИ ТЕСТИРОВАНИЯ SYSTEM-TN-PACKAGE................. 189
5.1. Введение в проблему.................................................................................190
5.2. Технологии восстановления работоспособности SiP.............................192
5.3. Технологии диагностирования блоков FPGA..........................................199
5.3.1, Алгебро-логический метод диагностирования неисправностей........200
5.3.2. Векторно-логический метод диагностирования неисправностей......202
5.4. Адгебрологический метод ремонта блоков FPGA..................................204
5.5. Метод обхода матрицы логических блоков для покрытия дефектных компонентов FPGA ремонтными клетками...................................................209
5.6. Программное средство aGalls для покрытия дефектных компонентов FPGA ремонтными клетками...........................................................................215
5.7. Научная новизна и практическая значимость.........................................220
5.8. Литература.................................................................................................222
6. ТЕСТИРОВАНИЕ ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫХ КОМПОНЕНТОВ SOC....................................................................................224
6.1. Тестопригодность программно-аппаратных продуктов........................224
6.2. Модель процесса верификации проекта..................................................228
6.3. Тестирование, диагностирование и ремонт F-TP....................................233
6.4. Синтез и анализ тестов на граф-модели..................................................24 3
6.5. Технология диагностирования software модуля.....................................243
6.5.1. Построение графа регистровых передач..............................................245
6.5.2. Синтез и анализ тестов...........................................................................246
6.5.3. Построение таблицы неисправностей...................................................247
6.5.4. Определение диагноза............................................................................248
6.6. Выводы.......................................................................................................250
6.7. Литература.................................................................................................250
7. ИЕРАРХИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ ТЕСТИРОВАНИЯ СЛОЖНЫХ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ...................................................................................253
7.1. Актуальность проблемы...........................................................................253
7.2. Выбор модели тестирования сложной цифровой системы....................255
7.3. Анализ методов тестирования на основе IEEE стандартов...................259
7.4. Анализ архитектур IEEE BS стандартов.................................................267
7.5. Усовершенствование технологий, моделей и методов тестирования сложных цифровых систем..............................................................................271
7.6. Повышение качества теста на основе технологии IEEE BS................275
7.6.1. Boundary scan архитектура....................................................................275
7.6.2. Математическая модель тестирования дефектов................................277
7.6.3. Структурный анализ схемы...................................................................281
7.7. Выводы.......................................................................................................284
7.8. Литература.................................................................................................286
8. ПОИСК ДЕФЕКТОВ НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ТАБЛИЦ НЕИСПРАВНОСТЕЙ......................................................................................291
8.1. Двузначные таблицы неисправностей.....................................................291
8.2. Анализ многозначных таблиц неисправностей......................................293
8.3. Структурный анализ многозначных таблиц неисправностей...............295
8.4. Проектирование условных алгоритмов поиска дефектов......................301
8.4.1. Сигнатурный алгоритм обратного прослеживания.............................301
8.4.2. Алгоритм половинного деления неисправной области......................307
8.4.3. Стратегия зондирования дефектов на основе анализа МТН..............315
8.4.4. SL-алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур.............................................................................................................320
8.5. Выводы.......................................................................................................323
8.6. Литература.................................................................................................324
9. ДВУХТАКТНОЕ КУБИЧЕСКОЕ ИСЧИСЛЕНИЕ...................................326
9.1. Концепция представления моделей цифровых объектов......................326
9.2. Табличное представление моделей цифровых устройств......................332
9.3. Анализ кубических покрытий..................................................................347
9.4. Алгебраическая форма представления графа.........................................354
9.5. Кубическая форма представления графа.................................................358
9.6. Топологическое представление символов А-алфавита..........................365
9.7. Выводы.......................................................................................................367
9.8. Литература.................................................................................................367
10. СИНТЕЗ ТЕСТОВ ДЛЯ КОМПОНЕНТОВ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ... 369
10.1. Объект тестирования...............................................................................369
10.2. Формализация задач тестирования цифровых систем.........................372
10.3. Аппарат двухтактного кубического исчисления..................................373
10.4. Проектирование двухтактных КП активизации...................................374
] 0.5. Процедуры кубического алгоритма.......................................................378
10.6. Особенности построения тестов для избыточных схем.......................382
10.7. K-алгоритм генерации тестов для комбинационных схем...................385
10.8. Проектирование тестов для последовательностных схем...................393
10.9. Общая модель функционального элемента...........................................393
10.10. Модель генерации тестов для функциональных элементов..............397
10.11. Модели элементарных тригтерных схем.............................................401
10.12. Методы построения кубических покрытий и тестов для структурно-функциональных моделей цифровых устройств...........................................406
10.12.1. Принцип построения кубических покрытий одноступенчатых тригтерных структур........................................................................................409
10.12.2. Особенности построения кубических покрытий для двухступенчатых тригтерных структур..........................................................41 ]
10.12.3. Развитие я -алгоритма.......................................................................414
10.13. Выводы...................................................................................................423
10.14. Литература.............................................................................................425
11. AD НОС МЕТОДЫ ГЕНЕРАЦИИ ТЕСТОВ ДЛЯ ЦИФРОВЫХ
СИСТЕМ............................................................................................................429
ПЛ. Модификация метода генетических алгоритмов для синтеза тестов верификации цифровых систем......................................................................429
11.2. Функциональный K-алгоритм синтеза тестов.......................................442
11.3. Совместный K-алгоритм синтеза тестов...............................................447
11.4. Стратегия генерации тестов для цифровых систем..............................449
11.5. Анализ схемной структуры.....................................................................451
11.6. Псевдокомбинационные модели цифровых схем.................................454
11.7. Процедуры генерации тестов для последовательностных схем..........458
11.8. Выводы.....................................................................................................468
11.9. Литература...............................................................................................471
ЗАКЛЮЧЕНИЕ................................................................................................476
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ..............................................................................477